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zeta電位分析儀【納米粒度測(cè)量】日本大塚電子 ZETA電位·粒徑·分子量測(cè)系統(tǒng) ELSZ-NEO
型號(hào):ELSZ-NEO嵌入式膜厚檢測(cè)儀 實(shí)時(shí)測(cè)量膜厚 可對(duì)應(yīng)遠(yuǎn)程操作、多點(diǎn)測(cè)量
型號(hào):膜厚量測(cè)儀 FE-300 薄膜到厚膜的測(cè)量范圍、UV~NIR光譜分析 高性能的低價(jià)光學(xué)薄膜量測(cè)儀
型號(hào):
大塚電子(蘇州)有限公司注冊(cè)地址位于蘇州工業(yè)園區(qū)蘇州大道西1號(hào)世紀(jì)金融大廈1幢609室,注冊(cè)機(jī)關(guān)為蘇州工業(yè)園區(qū)市場(chǎng)監(jiān)督管理局,法人代表為YOSHIKAWA MASAHIKO(吉川雅彥),經(jīng)營范圍包括從事分光儀、分光光度計(jì)、攝譜儀、理化分析儀器、裝置和其他測(cè)量或檢驗(yàn)儀器、器具、機(jī)器商品(包含相應(yīng)零部件、消耗品)的批發(fā)、進(jìn)出口、傭金代理及相關(guān)配套業(yè)務(wù)。(依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項(xiàng)目,經(jīng)相關(guān)部門批準(zhǔn)后方可開展經(jīng)營活動(dòng))
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