RoHs/鹵素（無鹵）檢測系統
型號X-5600
產品概述：
X-5600型RoHS測試儀是一種體現X射線熒光分析技術進展的能量色散X射線熒光光譜儀。它采用低功率水制冷小型X光管為激發源，
電制冷硅半導體探測器為探測單元，再加上我公司專門開發的獨特分析方法的應用軟件，充分發揮各部件的優異性能，保證了整臺儀器
的高分辨率及通用適應性。任何需要多元素同時分析的地方， 正是它大有作為之處。
主要應用于電子 、五金、包裝等行業材料中的有害元素檢測、玩具、PVC、陶瓷等行業的鹵素（即無鹵檢測）和RoHS檢測；也可用于
電鍍行業的鍍層分析、玻璃、皮革等行業及質檢商檢機構。
產品特點：
1.無損檢測：無需制樣，無損、快速分析
2.儀器雙箱體結構：有效屏蔽干擾，增加儀器整體穩定性,保障測量結果的準確
3.三重防輻射系統：樣品倉打開，X光管快門自動閉鎖；更換樣品時X光管自動切斷電壓電流；儀器多層屏蔽艙蓋，有效防止X射線外溢
4.銀銅雙峰位自調系統：銀、銅雙峰位同時自動校準，當儀器峰位發生偏移時，隨時修正工作曲線，軟件可自動調整并恢復儀器到正常測量
狀態，避免系統偏差帶來誤差，隨時保證測量數據精準（同行業中采取軟件雙峰位全自動調整系統）；
5.溫度控制系統：內部采用風冷、水冷，油冷三重冷卻系統，限度降低X光管工作溫度，有效延長X光管使用壽命，且保證儀器長時間工作穩定，
測量精度更準確；
6.操作軟件：開放式操作軟件，用戶可根據自己的需求進行二次開發，實現儀器的效用，使一機多能；
7.報告格式：輸出報告格式可根據用戶要求獨立設計，用戶也可以自行二次開發
8.定量分析方法：基本參數法、理論Alpha系數法、經驗系數法、多元回歸法等（國內同行業采取此類綜合計算方法）；
9.定性分析方法：元素自動尋峰、Kl譜線標記法、譜峰比對法等
10.分析強度計算方式采用，毛強度、凈強度、解譜、峰背比及內標比，根據不同條件可選擇的強度計算方式。
11.鍍層檢測功能：可對不同基體上的不同金屬鍍層進行多層檢測
12.選配：可選配移動平臺，方便物體移動，多點檢測
技術參數：
1、元素分析范圍：從鋁（13號元素）—鈾（92號元素）；
2、含量分析范圍：1mg/Kg - 10^6mg/Kg（1ppm=1 mg/Kg）
3、測量樣品型態多樣：固體、粉末、液體；
4、測量時間:快速檢測模式2秒，正常檢測模式30-180秒，可由用戶自由選擇
5、分析檢出限：
鉻Cr的檢出限是2.1ppm；
汞Hg的檢出限是3.2ppm；
鉛Pb的檢出限是1.2ppm；
溴Br的檢出限是0.3ppm；
鎘Cd的檢出限是5.8ppm
氯Cl的檢出限是12.6ppm
針對三星內部標準，加測銻Sb元素，檢出限4.3ppm
6、激發源：采用低能耗大功率 X 射線管，電壓50kV，電流1mA；
7、濾波系統+準直器：10種濾波片與5種準直器自動切換組合系統，提升檢測范圍和精度，并對不同元素采用有針對性的檢測條件
8、高壓電源：50W，50KV，1mA；
9、探測器：美國Amptek公司電制冷X-123 SIPIN半導體探測器；
10.探測面積：6mm2
11、分辨率：55Fe的能量為5.9Kev的MnKα線，分辨率優于129eV；對于12us的形成時間，半高寬為129eV
12.硅活化區厚度：500μm
13.探測器窗口：鈹窗，12.5μm厚
14.重復測量穩定性：10次連續測量的標準偏差小于0.05%
15、多道分析器：2048道；
16、攝像頭：CCD光學鏡頭；
17、樣品成像定位系統：內置自感光500萬像素攝像頭及定位軟件，方便樣品的局部定位測量；
18、工作電源：交流 220V/50Hz
19、樣品倉尺寸：345×335×120（mm）
20、外型尺寸：600×520×370（mm）
21、儀器重量：約39公斤
22、工作環境溫度：18℃—28℃
23、工作環境相對濕度：≤70%
安全對比數據說明：
比對數據：
表一、歐標EC681K測試數據對比： （單位：mg/Kg）
表二、歐盟標樣EC681K、EC680K測量結果： （單位：mg/Kg）
輻射安全報告
依據《X射線衍射儀和熒光分析儀衛生防護標準》GBZ115-2002，空氣比釋動能率低于2.5μSv/h對人體不夠成傷害。
型號X-5600
產品概述：
X-5600型RoHS測試儀是一種體現X射線熒光分析技術進展的能量色散X射線熒光光譜儀。它采用低功率水制冷小型X光管為激發源，
電制冷硅半導體探測器為探測單元，再加上我公司專門開發的獨特分析方法的應用軟件，充分發揮各部件的優異性能，保證了整臺儀器
的高分辨率及通用適應性。任何需要多元素同時分析的地方， 正是它大有作為之處。
主要應用于電子 、五金、包裝等行業材料中的有害元素檢測、玩具、PVC、陶瓷等行業的鹵素（即無鹵檢測）和RoHS檢測；也可用于
電鍍行業的鍍層分析、玻璃、皮革等行業及質檢商檢機構。
產品特點：
1.無損檢測：無需制樣，無損、快速分析
2.儀器雙箱體結構：有效屏蔽干擾，增加儀器整體穩定性,保障測量結果的準確
3.三重防輻射系統：樣品倉打開，X光管快門自動閉鎖；更換樣品時X光管自動切斷電壓電流；儀器多層屏蔽艙蓋，有效防止X射線外溢
4.銀銅雙峰位自調系統：銀、銅雙峰位同時自動校準，當儀器峰位發生偏移時，隨時修正工作曲線，軟件可自動調整并恢復儀器到正常測量
狀態，避免系統偏差帶來誤差，隨時保證測量數據精準（同行業中采取軟件雙峰位全自動調整系統）；
5.溫度控制系統：內部采用風冷、水冷，油冷三重冷卻系統，限度降低X光管工作溫度，有效延長X光管使用壽命，且保證儀器長時間工作穩定，
測量精度更準確；
6.操作軟件：開放式操作軟件，用戶可根據自己的需求進行二次開發，實現儀器的效用，使一機多能；
7.報告格式：輸出報告格式可根據用戶要求獨立設計，用戶也可以自行二次開發
8.定量分析方法：基本參數法、理論Alpha系數法、經驗系數法、多元回歸法等（國內同行業采取此類綜合計算方法）；
9.定性分析方法：元素自動尋峰、Kl譜線標記法、譜峰比對法等
10.分析強度計算方式采用，毛強度、凈強度、解譜、峰背比及內標比，根據不同條件可選擇的強度計算方式。
11.鍍層檢測功能：可對不同基體上的不同金屬鍍層進行多層檢測
12.選配：可選配移動平臺，方便物體移動，多點檢測
技術參數：
1、元素分析范圍：從鋁（13號元素）—鈾（92號元素）；
2、含量分析范圍：1mg/Kg - 10^6mg/Kg（1ppm=1 mg/Kg）
3、測量樣品型態多樣：固體、粉末、液體；
4、測量時間:快速檢測模式2秒，正常檢測模式30-180秒，可由用戶自由選擇
5、分析檢出限：
鉻Cr的檢出限是2.1ppm；
汞Hg的檢出限是3.2ppm；
鉛Pb的檢出限是1.2ppm；
溴Br的檢出限是0.3ppm；
鎘Cd的檢出限是5.8ppm
氯Cl的檢出限是12.6ppm
針對三星內部標準，加測銻Sb元素，檢出限4.3ppm
6、激發源：采用低能耗大功率 X 射線管，電壓50kV，電流1mA；
7、濾波系統+準直器：10種濾波片與5種準直器自動切換組合系統，提升檢測范圍和精度，并對不同元素采用有針對性的檢測條件
8、高壓電源：50W，50KV，1mA；
9、探測器：美國Amptek公司電制冷X-123 SIPIN半導體探測器；
10.探測面積：6mm2
11、分辨率：55Fe的能量為5.9Kev的MnKα線，分辨率優于129eV；對于12us的形成時間，半高寬為129eV
12.硅活化區厚度：500μm
13.探測器窗口：鈹窗，12.5μm厚
14.重復測量穩定性：10次連續測量的標準偏差小于0.05%
15、多道分析器：2048道；
16、攝像頭：CCD光學鏡頭；
17、樣品成像定位系統：內置自感光500萬像素攝像頭及定位軟件，方便樣品的局部定位測量；
18、工作電源：交流 220V/50Hz
19、樣品倉尺寸：345×335×120（mm）
20、外型尺寸：600×520×370（mm）
21、儀器重量：約39公斤
22、工作環境溫度：18℃—28℃
23、工作環境相對濕度：≤70%
安全對比數據說明：
比對數據：
表一、歐標EC681K測試數據對比： （單位：mg/Kg）
| 元素 | 鎘（Cd） | Pb(鉛) | 汞（Hg） | 總鉻（Cr） | 總溴(Br) | 單位： mg/Kg（1ppm=1mg/Kg) |
| 歐標EC681K | 137 | 98 | 23.7 | 100 | 770 | |
| 博智X-5600 | 135.6 | 101.71 | 21.36 | 103.8 | 775.6 | |
| 與歐標誤差值 | -1.4 | 3.71 | -2.34 | 3.8 | 5.6 | |
| 進口公司儀器 | 146.45 | 121.45 | 31.95 | 75.25 | 882.35 | |
| 與歐標誤差值 | 9.45 | 23.45 | 8.25 | -24.75 | 112.35 |
表二、歐盟標樣EC681K、EC680K測量結果： （單位：mg/Kg）
| 元素 | 鎘（Cd） | Pb(鉛) | 汞（Hg） | 總鉻（Cr） | 總溴(Br) | 單位：mg/Kg（1ppm=1mg/Kg) |
| EC681K(次) | 138.66 | 109.04 | 26.64 | 102.08 | 777.33 | |
| EC681K(第二次) | 138.45 | 108.74 | 25.33 | 109.75 | 775.72 | |
| EC681K(第三次) | 136.46 | 108.91 | 27.53 | 104 | 775.64 | |
| EC681K標準數據 | 137 | 98 | 23.7 | 100 | 770 | |
| EC680k(次) | 18.06 | 13.57 | 7.55 | 18.61 | 101.51 | |
| EC680k(第二次) | 17.13 | 12.45 | 6.34 | 20.57 | 103.15 | |
| EC680k(第三次) | 18.56 | 15.97 | 6.69 | 17.67 | 105.75 | |
| EC680k標準數據 | 19.6 | 13.6 | 4.64 | 20.2 | 96 |
輻射安全報告
| 測量點 | 空氣比釋動能率測值（μSv/h） |
| 儀器前表面5cm | 小于0.6 |
| 儀器后表面5cm | 小于0.6 |
| 儀器左表面5cm | 小于0.6 |
| 儀器右表面5cm | 小于0.6 |
| 儀器上表面5cm | 小于0.6 |
| 儀器下表面5cm | 小于0.6 |
| 操作位 | 小于0.6 |
依據《X射線衍射儀和熒光分析儀衛生防護標準》GBZ115-2002，空氣比釋動能率低于2.5μSv/h對人體不夠成傷害。
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