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振動樣品磁強計VSM 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 14 振動樣品磁強計VSM振動樣品磁強計VSM?振動頭振動頻率(校準):1-100Hz?VSM振蕩幅度范圍：0.1mm-5mm?大樣品直徑：6mm?適用于液體、粉末、塊狀樣品測試?RMS靈敏度5×10-7emu?超高穩定性±0.05%每天?非常簡單易用的高溫爐/低溫選件2-1000k測試溫度范圍?氣冷電磁鐵電源?磁場勵磁速度:取決于電源和電磁鐵?室溫系統：磁場沿水平軸對比
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霍爾效應測試系統 EzHEMS 參考價 ￥面議
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品牌 型號 EzHEMS 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 16 霍爾效應測試系統EzHEMS?電阻率測量范圍:10-4-109?·cm(取決于樣本)?遷移率:1-107cm2/V·S(取決于樣本)?載流子濃度:107-1021percm3(取決于樣本)?電流源:±2nAto±20mA,±12Vcompliance?小測試霍爾電壓:0對比
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TS2000-HP Probe System 半自動化探針臺測試系統 參考價 ￥面議
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品牌 型號 TS2000-HP Probe System 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 16 TS2000-HPProbeSystem半自動化探針臺測試系統MPI的TS2000-HP半自動化探針臺測試系統可提供8英寸及以下晶圓器件的高功率測量，*的ShielDEnvironment™可提供低噪聲和屏蔽的測試環境對比
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TS200-SE Probe System MPI手動晶圓探針臺系統 參考價 ￥面議
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品牌 型號 TS200-SE Probe System 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 15 適用于多種晶圓量測應用，?如組件特性描述和建模、射頻和毫米波、晶圓可靠性(WLR)和失效分析(FA)MPIShielDEnvironment™屏蔽環境?專為EMI/RFI/Light-Tight屏蔽所設計的精密量測環境?支援飛安低漏電量量測?溫度量測范圍-60°C至300°CTS200-SEProbeSystem細節優勢MPITS200-SE手動探針測試系統具有的功能對比
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布魯克Bruker 三維光學輪廓儀 ContourX-500 參考價 ￥面議
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品牌 型號 ContourX-500 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 16 布魯克Bruker三維光學輪廓儀ContourX-500ContourX-500光學輪廓儀是功能面的自動化臺式系統，可快速完成非接觸式三維表面計量對比
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Thermo Scientific Integrion 高壓離子色譜 參考價 ￥面議
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品牌 型號 Integrion 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 11 ThermoScientificIntegrion高壓離子色譜耐壓zui高的離子色譜泵對比
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德國Diener 等離子蝕刻機Tetra 8 RIE 參考價 ￥面議
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品牌 型號 Tetra 8 RIE 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 14 德國Diener等離子蝕刻機Tetra8RIE用途：表面清洗活化表面蝕刻Tetra8RIE產品特點：適用于8”以下樣品的處理等離子蝕刻機對比
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布魯克Bruker 三維光學輪廓儀ContourGT-X 參考價 ￥面議
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品牌 型號 ContourGT-X 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 11 布魯克Bruker三維光學輪廓儀ContourGT-XContourGT-X三維光學輪廓儀提供高性能非接觸表面測量，適用于實驗室研究和生產過程控制對比
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德國 半自動引線鍵合機/焊線機 WB-200 參考價 ￥面議
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品牌 型號 WB-200 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 13 WB-200半自動引線鍵合機可進行球焊、鍥焊、金線鍵合、跳焊(Pump)技術規格特點：-鍥焊、球焊、跳焊;-半自動和手動鍵合模式;-焊線直徑：17μm-50μm;-焊臂長度：165mm(6.7”);-焊頭進入深度：16mm;-可存儲50個程序;每個程序50step-電機驅動Z軸壓頭;-溫控加溫對比
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島津 Nexera LC-40 液相色譜儀 參考價 ￥面議
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品牌 型號 Nexera LC-40 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 10 島津長久以來一直致力于提高HPLC的分析性能對比
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布魯克 Bruker光學輪廓儀 ContourX-200 參考價 ￥面議
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品牌 型號 ContourX-200 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 12 布魯克Bruker光學輪廓儀ContourX-200ContourX-200光學輪廓儀提供了高級表征能力、可選定制配件、和使用方便三者的融合，是同類產品中、最準確、可重復性的非接觸式三維表面計量系統對比
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布魯克 Bruker PI 89 掃描電鏡納米壓痕儀 參考價 ￥面議
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品牌 型號 PI 89 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 12 TheHysitronPI89掃描電鏡聯用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）的成像能力，可以在成像的同時進行定量納米力學測試對比
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韓國 ATI WIS-1000晶圓檢查機Wafer Inspection 不銹鋼柜式設備 參考價 ￥面議
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品牌 型號 I WIS-1000 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 10
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布魯克 Bruker 三維光學輪廓儀ContourSP 參考價 ￥面議
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品牌 型號 ContourSP 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 11 布魯克Bruker三維光學輪廓儀ContourSP大面板計量系統融合了十余年封裝光學表征專業技術，使高密度互連PCB（HDI-PCB）基板的測量效率比上一代白光干涉（WLI）儀器增加了一倍以上對比
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美國Agilent 7890B 氣相色譜儀 參考價 ￥面議
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品牌 型號 7890B 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 14 美國Agilent7890B氣相色譜儀產品特性：●載氣選件：氦氣節省模塊、氫氣傳感器和替代載氣解決方案可以顯著降低氦氣的使用量，提高實驗室分析的靈活性對比
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賽默飛 三重四極桿液質聯用儀TSQ Quantum Ultra 參考價 ￥面議
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品牌 型號 TSQ Quantum Ultra 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 10 賽默飛三重四極桿液質聯用儀TSQQuantumUltraTSQQuantumUltra同時進行定量分析和定性確證，增強定量數據關聯二級掃描(QED-MS/MS)為多殘留分析和定量實驗提供顯著優勢對比
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德國Diener Zepto W6 等離子表面處理機 參考價 ￥面議
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品牌 型號 Zepto W6 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 12 德國DienerZeptoW6等離子表面處理機德國DienerelectronicGmbH+Co.KG公司成立于1993年，專業從事等離子表面處理設備的研發與生產，Diener等離子清洗機可用于清洗、刻蝕、磨砂和表面準備等對比
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美國珀金埃爾默 PerkinElmer QSight 三重四極桿液質聯用儀 參考價 ￥面議
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品牌 型號 PerkinElmer QSight 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 10 創新之作與眾不同QSightTM三重四極桿液質聯用儀系統，集高靈敏度，高選擇性，高通量及耐用性等優異性能于一體，結構緊湊，操作簡單對比
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美l國Nano-master 兆聲晶圓清洗機WC-3000 單晶圓掩模版清洗設備 參考價 ￥面議
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品牌 型號 WC-3000 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 9 美國Nano-master兆聲晶圓清洗機SWC-3000特點：對比
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英國Ellutia 低熱容快速氣相 GC300 LTM 參考價 ￥面議
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品牌 型號 GC300 LTM 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 9 英國Ellutia低熱容快速氣相GC300LTMEllutia新型快速氣相色譜儀采用在色譜柱金屬外殼上通電流對色譜柱進行電阻式直接加熱技術對比
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俄羅斯NT-MDT 多功能自動化 AFM-Raman-TERS和SNOM系統 參考價 ￥面議
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品牌 型號 NTEGRA SPECTRA II 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 6 NTEGRASpectraII多功能自動化的AFM-Raman-TERS和SNOM系統主要特點:o多功能高性能原子力顯微鏡o可從頂部對比
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俄羅斯 NT-MDT 全自動多功能掃描探針顯微鏡/AFM Solver NEXT 參考價 ￥面議
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品牌 型號 Solver NEXT 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 8 全自動多功能掃描探針顯微鏡/AFM技術參數：測量模式：STM/AFM(接觸+輕敲+非接觸)/橫向力/相位/力調制/力譜/粘附力/磁力/靜電力/開爾文/擴展電阻/納米壓痕/納米刻蝕:AFM(電壓刻蝕+力刻蝕)掃描方式：樣品掃描測量頭部：AFM和SPM（全內置自動切換）對比
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俄羅斯NT-MDT 掃描探針顯微鏡/壓電響應力（PFM） NTEGRA Prima 參考價 ￥面議
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品牌 型號 NTEGRA Prima 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 6 掃描探針顯微鏡/壓電響應力（PFM）壓電響應力顯微術(PFM)生物材料與鐵電材料等的成像許多材料的機電耦合行為，如生物基細胞膜和蛋白質，鐵電和壓電材料從現在開始都可以用壓電響應力顯微鏡來表征對比
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俄羅斯NT-MDT 拉曼光譜和原子力顯微鏡聯用Ntegra Spctra 參考價 ￥面議
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品牌 型號 Ntegra Spctra 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 8 NTEGRASpectra是一款的集成了掃描探針顯微鏡、激光共聚焦/熒光顯微鏡和拉曼光譜儀的系統對比
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Park 原子力顯微鏡 FX40 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 7 FX40原子力顯微鏡ParkFX40納米科學研發界應運而生的的新型全自動原子力顯微鏡該產品可以通過多樣化的應用程序，不費吹灰之力即可獲得最敏銳、最清晰、分辨率的掃描圖像對比
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俄羅斯 NT-MDT 近場光學顯微鏡NTEGRA SNOM 參考價 ￥面議
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品牌 型號 NTEGRA SNOM 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 11 近場光學顯微鏡用超越激光衍射極限的系統來研究樣品NTEGRASpectra在檢測樣品時，通過掃描近場光學顯微術能提供超越激光光學衍射的光學分辨率對比
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德國徠卡 振動切片機VT1200s 參考價 ￥面議
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品牌 型號 VT1200s 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 9 徠卡振動切片機VT1200s全自動LeicaVT1200S振動切片機設計用于滿足神經學領域新鮮和固定組織切片的切片要求對比
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英國HHV TF500/TF600適合*研發和試生產的全功能系統 參考價 ￥面議
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品牌 型號 TF500/TF600 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 6 英國HHVTF500/TF600適合*研發和試生產的全功能系統系統配置不銹鋼真空腔室，高真空泵安裝在腔室后方對比
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日本東曹 離子色譜儀 IC-2010 參考價 ￥面議
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品牌 型號 IC-2010 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 7 日本東曹離子色譜儀IC-2010主要特點：高速連續多樣品處理●實現了測定時間不超過5分鐘的高通量分析與專用的高速分離色譜柱一起配套使用，陰離子，陽離子的測定5分鐘內便可完成對比
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德國Iplas 微波等離子化學氣相沉積系統 參考價 ￥面議
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品牌 型號 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 9 德國Iplas微波等離子化學氣相沉積詳細介紹德國IPLAS微波等離子化學氣相沉積技術（MPCVD),通過等離子增加前驅體的反應速率，降低反應溫度對比
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德國Sentechv SI 500 電感耦合等離子體ICP干法刻蝕系統 參考價 ￥面議
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品牌 型號 SI 500 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 9 德國SentechvSI500電感耦合等離子體ICP干法刻蝕系統產品描述感應耦合等離子刻蝕機臺，低損傷納米結構刻蝕，高速率刻蝕，內置ICP等離子源，動態溫控InhouseICPplasmasource內置ICP等離子源平板三螺旋天線（PTSA）等離子源是SENTECH的等離子工藝系統對比
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美國Nano-master NIE-4000 離子束刻蝕系統/ 雙刻蝕系統 參考價 ￥面議
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品牌 型號 NIE-4000 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 6 美國Nano-masterNIE-4000離子束刻蝕系統，NIR-4000IBE/RIE雙刻蝕系統NANO-MASTER擁有成熟的技術能力可以使基片溫度保持在50°C以下對比
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布魯克Bruker Hysitron IntraSpect 90納米壓痕儀 參考價 ￥面議
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品牌 型號 Hysitron IntraSpect 90 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 9 布魯克BrukerHysitronIntraSpect90納米壓痕儀布魯克的HysitronIntraSpect90是一種原位壓痕系統，專門設計用于在變形過程中實時觀察物理化學變化對比
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日本理學 組合式多功能X射線衍射儀Ultima IV系列 參考價 ￥面議
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品牌 型號 Ultima IV系列 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 8 組合式多功能X射線衍射儀UltimaIV系列技術參數1.X射線發生器功率為3KW2.測角儀為水平測角儀3.測角儀最小步進為1/10000度4.測角儀配程序式可變狹縫5.高反射效率的石墨單色器6.CBO交叉光路對比
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德國MBE 分子束外延系統OCTOPLUS 500 參考價 ￥面議
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品牌 型號 OCTOPLUS 500 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 8 德國MBE分子束外延系統OCTOPLUS500OCTOPLUS500MBE系統的主要特點是的可靠性和普適性對比
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賽默飛 ARL EQUINOX 3000 X射線衍射儀 參考價 ￥面議
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品牌 型號 EQUINOX 3000 類型 半導體設備 廠商性質 其他 更新時間 2023-02-25 瀏覽次數 6 賽默飛ARLEQUINOX3000X射線衍射儀hermoScientificARLEQUINOX3000型粉末X射線衍射儀配備的弧形探測器，可同時測量所有角度的衍射峰，因此相比其它衍射儀測試速度更快對比
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